项目聚焦于半导体光学外观缺陷检测，利用人工智能检查制造工艺的合规性，高精度高效地检出产成品的缺陷。针对半导体芯片缺陷检测“缺陷难发现”、“检测精度与效率低”和“新缺陷易遗漏”的三大技术难点问题，公司研发了“自适应光源控制系统”、“基于分治策略的人工智能视觉识别算法”和“正样本学习”三大核心技术，来解决上述难点问题，在效率、精度、人力和成本上取得了极大的优势，将检测精度率稳定在99.9%以上。项目专注在LED半导体检测领域与三安光电集团合作了针痕外观缺陷检测等旧型生产线改造业务，并在国产厂商中率先交付了99.9%检测精度的LED外观机。目前该产品已经具备批量交付能力，获得了三安光电及聚灿光电的20台订单。随着AOI外观机的交付，公司成功研发了第二款标准化产品自动镜检机。 【展开】 【收起】